集成電路布圖設計侵權鑒定

我司可根據委托方的委托事項,組織鑒定人員對涉案侵權的布圖設計是否實質相似、是否具有獨創性等方面進行調查、分析并出具知識產權鑒定報告。
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集成電路布圖設計侵權 鑒定背景

集成電路,是指半導體集成電路,即以半導體材料為基片,將至少有一個是有源元件的兩個以上元件和部分或者全部互連線路集成在基片之中或者基片之上,以執行某種電子功能的中間產品或者最終產品。

集成電路布圖設計,是指集成電路中至少有一個是有源元件的兩個以上元件和部分或者全部互連線路的三維配置,或者為制造集成電路而準備的上述三維配置。

集成電路布圖設計的創新發展與集成電路產業的發展密切相關,我國集成電路產業發展雖然起步較晚,但近幾年發展迅速,對知識產權的保護也提出了更高的要求。隨著《國家集成電路產業發展推進綱要》的頒布實施,及布圖設計登記授權量的逐年增加。

集成電路布圖設計不同于傳統知識產權,是一種新型的人類智慧成果,但其保護的客體特點類似于作品保護,要求具有獨創性,并且侵權認定規則也與著作權無異。

鑒于集成電路布圖設計極高的集成度與較強的技術性,鑒定意見成為幾乎貫穿判決說理全過程的重要裁判依據。

我司可根據委托方的委托事項,組織鑒定人員對涉案侵權的布圖設計是否實質相似、是否具有獨創性等方面進行調查、分析并出具知識產權鑒定報告。


集成電路布圖設計 侵權認定條件

對集成電路布圖設計實質性相似的判斷標準可以歸納為如下三個方面:

第一、判斷集成電路功能是否不同

雖然集成電路布圖設計工藝不斷提高,其內部構造和布局也越來越復雜,但判斷被訴集成電路布圖設計與原告的設計之間是否存在實質性差異只需首先判斷所涉芯片的功能是否不同。具體可將測試芯片置于相同的測試平臺,若芯片被輸入相同測試信號后,輸出相同的信號,則證明被測芯片實質功能相同,構成侵權;否則,不構成侵權。

第二、判斷集成電路布圖設計布局是否不同

這需要從集成電路布圖設計中元器件的大小、形狀和擺放位置等綜合性元素上進行判斷,既要從宏觀組合量上來分析,又要從微觀布局上來比較。若被訴的布圖設計與原告的設計在這些方面存在不同,即使兩個布圖設計中只有極少部分不同,也不是實質相似,不構成侵權。

第三、判斷集成電路布圖設計核心部分是否不同

對于集成電路布圖設計的核心部分的界定,主要看其是否能在設計中完成獨立的功能,能否獨立廣泛使用。對于這一部分的判斷就不能以元器件的布局和擺放等元素標準來判斷,也就是說,對于布圖設計的核心部分只要被復制了,即使其在整個布圖設計中所占比例非常小,也構成侵權。


集成電路布圖設計侵權 法律法規

《集成電路布圖設計保護條例》

《集成電路布圖設計保護條例實施細則》

《集成電路布圖設計行政執法辦法》


集成電路布圖設計侵權 鑒定方法

1、為確定侵權比對的范圍,鑒定機構需要比對了專有權人所提交的樣品與其圖樣紙件間是否具有一致性,該一致性存在與否的比對判斷實際上也劃定了登記布圖設計的保護范圍。

2,為保證侵權比對確有意義,鑒定人員基于其專業知識以及雙方當事人所提供的證據,參照專有權人所提出的獨創點,對涉案布圖設計與常規設計進行比對,以確定涉案布圖設計確有獨創性。

3,鑒定機構需基于權利人所提出的獨創點,逐一從相對位置、大小、形狀、數量等方面,比對了被訴布圖設計與涉案布圖設計的三維配置,以確定前者是否與后者的獨創點構成相同或實質性相似。


植物新品種鑒定 司法案例

在最高法發布的人民法院種業知識產權司法保護典型案例中,集成電路布圖設計侵權鑒定對于集成電路布圖設計維權提供了強有力的支持。

【基本案情】

被上訴人(一審原告)蘇州賽某電子科技有限公司(下稱“原告”)是登記號為BS.12500520.2的集成電路布圖設計(下稱“布圖設計”)的權利人,發現上訴人(一審被告)某科技有限公司等四被告(以下統稱“被告”)可能存在侵害其布圖設計專有權的侵權行為,遂向法院起訴。

糾紛發生時,原告的布圖設計已依法在國家知識產權局登記,其專有權處于有效狀態。鑒于該布圖設計的登記申請日在其首次投入商業利用之后,因而除提供布圖設計的圖樣紙質件外,原告同時提交了該集成電路的樣品,并附上了圖樣的電子版本。為查明案件事實,一審法院調取了涉案布圖設計的登記申請表、簡要說明、圖樣目錄、集成電路各層具體設計圖樣的紙質件及芯片樣品。

【鑒定過程】

為被告侵犯其布圖設計專有權的主張,原告在一審階段提供了三方面的證據證明其專有權及侵權行為的存在:

1、指明布圖設計的獨創點,提供與各獨創點對應的現有常規設計;

2、提供被告以復制、銷售方式實施侵權行為的公證證據;

3、申請司法鑒定,以確定被告所生產、銷售的芯片中應用的布圖設計與涉案布圖設計構成相同或實質相同。

鑒定機構所出具的《司法鑒定意見書》(下稱“《意見書》”)顯示,由于涉案布圖設計登記備案的紙質圖樣細節模糊不清,鑒定機構遂基于其樣品的剖片與被訴侵權產品進行比對。

此外,鑒于原告在一審中對其獨創點說明“6個獨創點內容”中的獨創點5進行了修改,鑒定機構基于修改后的獨創點進行鑒定,認可了其中數個獨創點具有獨創性,并認定在上述獨創點上,被訴侵權產品與涉案布圖設計構成實質相同。

一審判決中,法院對鑒定機構的上述判斷予以全部采信,同時基于原告所提供的以上證據,認定被告方所實施的復制、銷售行為構成對原告布圖設計專有權的侵犯,應承擔相應的法律責任。


集成電路布圖設計侵權鑒定 服務優勢

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